Главная новостьKeysight и WIN снижают риск проектирования GaN MMIC для RF-компонентов
Keysight и WIN Semiconductors представили совместный workflow для проектирования GaN MMIC : среда объединяет моделирование кристалла, 3D-проверку разводки и подготовку RF-оценочной платы до передачи дизайна на...
