Aehr Test Systems получила новые заказы на сумму свыше $8 млн для wafer-level burn-in — испытаний полупроводниковых приборов на уровне пластины. В фокусе поставок — решения для оценки надежности SiC-приборов, применяемых в тяговой электронике и системах зарядки электромобилей.
Заказчик расширяет применение контактных систем FOX WaferPak для отбора ранних отказов до корпусирования. Такой этап WLBI-тестирования помогает производителям силовых компонентов проверять стабильность кристаллов до их интеграции в модуль и снижать риск дефектов в серийных изделиях.
Для рынка силовых полупроводников это признак роста требований к валидации SiC-устройств в автомобильных платформах. Более высокие напряжения бортовых сетей, ускоренная зарядка и требования к КПД повышают роль испытаний, теплового контроля и трассируемости параметров компонентов.
Интерес к WLBI также распространяется на промышленную автоматику, накопители энергии, зарядную инфраструктуру и питание вычислительных систем. При подборе SiC-компонентов важно учитывать не только паспортные характеристики, но и требования к надежности, корпусу и условиям эксплуатации.
Для подбора компонентов смотрите раздел Полупроводниковые модули в каталоге ООО «Телеметрия».
